Análise da radiação espalhada do perfil de dose em tomografia computadorizada utilizando detector semicondutor
DOI:
https://doi.org/10.29384/rbfm.2010.v4.n3.p31-34Abstract
A dosimetria em tomografia computadorizada é feita, principalmente, utilizando uma câmara de ionização tipo lápis de 100 mm de extensão.
No entanto, tem-se questionado bastante a eficácia desse método na coleta de toda radiação espalhada do perfil de dose e uma nova forma de
avaliação dosimétrica tem sido sugerida. Ela envolve a utilização de detectores menores efetuando múltiplas varreduras do feixe de raios X. Neste
trabalho, o perfil de dose foi avaliado em um simulador dosimétrico de cabeça utilizando um dispositivo semicondutor, o fototransistor OP520. Os
dispositivos foram dispostos em dois arranjos de detectores diferentes -com 2 e 4 fototransistores- e foram submetidos a uma varredura de 170 mm
de extensão. Uma câmara lápis submetida às mesmas condições de irradiação foi utilizada para efetuar uma comparação dos dados. Os resultados
confirmaram que os 100 mm não são suficientes para coletar toda radiação espalhada do perfil de dose e mostraram que os fototransistores podem
ser úteis para dosimetria em tomografia computadorizada.
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