Caracterização de feixes de TC utilizando Espectrometria Compton
DOI:
https://doi.org/10.29384/rbfm.2017.v11.n2.p16-20Palavras-chave:
Espectrometria Compton, tomografia computadorizada, detector de CdTe, feixes espalhados, fórmula de Klein-NishinaResumo
É essencial obter espectros dos raios X em TC, visando obter parâmetros que caracterizam a qualidade do feixe e o desempenho do equipamento. Entretanto, os fluxos de fótons em TC são demasiado elevados para se medir os espectros diretamente com detetores comuns. Neste trabalho, foi projetado um espectrômetro Compton, com um detetor de CdTe, para obter o espectro de feixes de TC, a partir da medição do espectro do feixe espalhado a 90o por uma haste de PMMA. Um programa de computador foi desenvolvido em MatLab®, usando o formalismo de Waller-Hartree, para reconstruir os espectros incidentes no espalhador, a partir dos espectros dos feixes espalhados medidos. Medições no LDRFM, com feixes padronizados de TC, mostraram que o espectro reconstruído é semelhante ao do feixe medido diretamente. A influência da blindagem e da espessura do espalhador foram investigadas. O sistema foi testado em um scanner GE 690, permitindo posicionamento na mesa de exames e alinhamento com lasers, refinado por radiografia do sistema. Com o sistema adequadamente blindado, os espectros obtidos apresentaram valores de camada semi-redutora (CSR) compatíveis com aqueles medidos em testes de controle de qualidade e valores de kVp com precisão suficiente para avaliar a calibração em tensão do scanner.
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